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| Basisinformationen | IEEE Design & Test of Computers |
|---|---|
| Titel | IEEE Design & Test of Computers |
| ISSN | 0740-7475, 1558-1918 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| Land/Region | Vereinigte Staaten |
| Fachgebiet | Informatik |
| Open Access | — |
| APC | — |
| Begutachtung | — |
| Artikel/Jahr | 2,981 |
| h-index | 112 |
| 2-Jahres-Zitationsmittel | 0.00 |
| DOAJ | — |
| Einreichungsseite | — |