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Introduce 2–3 ISSN y compara APC, revisión, volumen y acceso abierto.
| Información básica | IEEE Design & Test of Computers |
|---|---|
| Título | IEEE Design & Test of Computers |
| ISSN | 0740-7475, 1558-1918 |
| Editorial | Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| País/Región | Estados Unidos |
| Área | Ciencias de la computación |
| Acceso abierto | — |
| APC | — |
| Revisión | — |
| Artículos/año | 2,981 |
| h-index | 112 |
| Media de citas a 2 años | 0.00 |
| DOAJ | — |
| Página de envío | — |