Index indépendant de revues · Données ouvertes
OpenAlex CC0 · DOAJ CC0 · Données ouvertes

Comparer

Comparer des revues

Saisissez 2–3 ISSN et comparez APC, délai, volume et accès ouvert.

Informations générales IEEE Design & Test of Computers
Titre IEEE Design & Test of Computers
ISSN 0740-7475, 1558-1918
Éditeur Institute of Electrical and Electronics Engineers
Pays/Région États-Unis
Discipline Informatique
Accès ouvert —
APC —
Évaluation —
Articles/an 2,981
h-index 112
Citations moyennes sur 2 ans 0.00
DOAJ —
Page de soumission —