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IEEE Design & Test of Computers

IEEE design and test · Design and test of computers · Design & test of computers · IEEE design and test of computers · Design & test of computers, IEEE · Institute of Electrical and Electronics Engineers design and test of computers

ISSN:0740-7475, 1558-1918

APC—
심사 기간—
논문/년2,981
h-index112
2년 평균 피인용0.00
최근 발행연도2023

기본 정보

출판사
Institute of Electrical and Electronics Engineers
국가/지역
미국
분야
컴퓨터과학
오픈 액세스
—
DOAJ
—
라이선스
—
최초 연도
1984
DOAJ 논문 레코드
—
웹사이트
—
투고 페이지
—

분야 분류

컴퓨터과학1,152 공학655
§

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