Abonnement
Mogelijk gestopt · 2017
IEEE Biometrics Compendium
IEEE virtual journal
ISSN:2159-4244
Institute of Electrical and Electronics Engineers · Verenigde Staten · 2010
Indiening → publicatie—
APC—
DOAJ—
Eerste jaar2010
Basisinformatie
- Uitgever
- Institute of Electrical and Electronics Engineers
- Land/regio
- Verenigde Staten
- Vakgebied
- —
- Open access
- —
- DOAJ
- —
- Licentie
- —
- Eerste jaar
- 2010
- DOAJ-artikelrecords
- —
- Dit tijdschrift verifiëren
- Master Journal List ↗
- Indieningspagina
- —
Referentiedata Hoe je tijdschriftindicatoren leest →
Artikelen/jaar30
h-index0
Gemiddelde citaties over 2 jaar0.00
Laatste jaar2017
DOAJ-artikelrecords—
Open access—
‘Gemiddelde citaties over 2 jaar’ is het OpenAlex-veld summary_stats.2yr_mean_citedness (CC0): gemiddelde citaties per artikel over een venster van twee jaar. Het is een ruw bibliometrisch veld, geen tijdschriftbeoordeling, en wordt niet gebruikt voor de standaardsortering.