IEEE Design & Test of Computers

IEEE design and test · Design and test of computers · Design & test of computers · IEEE design and test of computers · Design & test of computers, IEEE · Institute of Electrical and Electronics Engineers design and test of computers

ISSN:0740-7475, 1558-1918

Добавить к сравнению

APC—

Рецензирование—

Статей/год2,981

h-index112

Средняя цитируемость за 2 года0.00

Последний год2023

Основная информация

Издательство: Institute of Electrical and Electronics Engineers
Страна/регион: Соединенные Штаты
Область: Информатика
Открытый доступ: —
DOAJ: —
Лицензия: —
Первый год: 1984
Записей статей: —
Сайт: —
Страница подачи: —

Проверка для подачи

Стоимость:Сумма APC не указана
Сложность:—;2,981 статей в год
Как подать:Ссылки на правила для авторов пока нет; начните с сайта журнала.
Открытый доступ:—

«Средняя цитируемость за 2 года» — это поле OpenAlex summary_stats.2yr_mean_citedness (CC0): среднее число цитирований на статью за двухлетнее окно. Это сырое библиометрическое поле, а не оценка журнала; оно не используется для сортировки по умолчанию.