Подписка Возможно, прекращён · 2017

IEEE Biometrics Compendium

IEEE virtual journal

ISSN:2159-4244

Institute of Electrical and Electronics Engineers · Соединенные Штаты · 2010

Сайт журнала ↗ Добавить к сравнению

От подачи до публикации—

APC—

DOAJ—

Первый год2010

Основная информация

Издательство: Institute of Electrical and Electronics Engineers
Страна/регион: Соединенные Штаты
Область: —
Открытый доступ: —
DOAJ: —
Лицензия: —
Первый год: 2010
Записи статей в DOAJ: —
Сайт: http://ieeexplore.ieee.org/xpls/virtual-journal…
Проверить журнал: Master Journal List ↗
Страница подачи: —

Справочные данные Как читать метрики журналов →

Статей/год30

h-index0

Средняя цитируемость за 2 года0.00

Последний год2017

Записи статей в DOAJ—

Открытый доступ—

«Средняя цитируемость за 2 года» — это поле OpenAlex summary_stats.2yr_mean_citedness (CC0): среднее число цитирований на статью за двухлетнее окно. Это сырое библиометрическое поле, а не оценка журнала; оно не используется для сортировки по умолчанию.