对比
期刊对比
输入 2–3 个 ISSN，并排比较 APC、审稿周期、发文量和开放获取状态。
| 基本信息 | IEEE Design & Test of Computers |
|---|---|
| 刊名 | IEEE Design & Test of Computers |
| ISSN | 0740-7475, 1558-1918 |
| 出版社 | Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| 国家/地区 | 美国 |
| 学科 | 计算机科学 |
| 开放获取 | — |
| APC | — |
| 审稿 | — |
| 年发文 | 2,981 |
| h-index | 112 |
| 两年被引均值 | 0.00 |
| DOAJ | — |
| 投稿入口 | — |