Bandingkan
Bandingkan jurnal
Masukkan 2–3 ISSN dan bandingkan APC, tinjauan, volume, serta akses terbuka.
| Informasi dasar | IEEE Design & Test of Computers |
|---|---|
| Judul | IEEE Design & Test of Computers |
| ISSN | 0740-7475, 1558-1918 |
| Penerbit | Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| Negara/Wilayah | Amerika Serikat |
| Bidang | Computer Science |
| Akses terbuka | — |
| APC | — |
| Tinjauan | — |
| Artikel/tahun | 2,981 |
| h-index | 112 |
| Rata-rata sitasi 2 tahun | 0.00 |
| DOAJ | — |
| Halaman pengiriman | — |