Indeks jurnal independen · Data terbuka
OpenAlex CC0 · DOAJ CC0 · Data terbuka
Langganan

IEEE Design & Test of Computers

IEEE design and test · Design and test of computers · Design & test of computers · IEEE design and test of computers · Design & test of computers, IEEE · Institute of Electrical and Electronics Engineers design and test of computers

ISSN:0740-7475, 1558-1918

APC—
Tinjauan—
Artikel/tahun2,981
h-index112
Rata-rata sitasi 2 tahun0.00
Tahun terakhir2023

Informasi dasar

Penerbit
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Negara/Wilayah
Amerika Serikat
Bidang
Computer Science
Akses terbuka
—
DOAJ
—
Lisensi
—
Tahun pertama
1984
Catatan artikel
—
Situs web
—
Halaman pengiriman
—

Klasifikasi bidang

Computer Science1,152 Engineering655
§

Jurnal di bidang yang sama

Lainnya →
1746-5702

ITNOW

Oxford University Press · Inggris Raya

APC
—
Tinjauan
—
Artikel/tahun
6,066