Vergelijken
Tijdschriften vergelijken
Voer 2–3 ISSN’s in en vergelijk APC, reviewtijd, volume en open access.
| Basisinformatie | IEEE Design & Test of Computers |
|---|---|
| Titel | IEEE Design & Test of Computers |
| ISSN | 0740-7475, 1558-1918 |
| Uitgever | Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| Land/regio | Verenigde Staten |
| Vakgebied | Computer Science |
| Open access | — |
| APC | — |
| Review | — |
| Artikelen/jaar | 2,981 |
| h-index | 112 |
| Gemiddelde citaties over 2 jaar | 0.00 |
| DOAJ | — |
| Indieningspagina | — |