Onafhankelijke tijdschriftenindex · Open data
OpenAlex CC0 · DOAJ CC0 · Open data
Abonnement

IEEE Design & Test of Computers

IEEE design and test · Design and test of computers · Design & test of computers · IEEE design and test of computers · Design & test of computers, IEEE · Institute of Electrical and Electronics Engineers design and test of computers

ISSN:0740-7475, 1558-1918

APC—
Review—
Artikelen/jaar2,981
h-index112
Gemiddelde citaties over 2 jaar0.00
Laatste jaar2023

Basisinformatie

Uitgever
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Land/regio
Verenigde Staten
Vakgebied
Computer Science
Open access
—
DOAJ
—
Licentie
—
Eerste jaar
1984
Artikelrecords
—
Website
—
Indieningspagina
—

Vakclassificatie

Computer Science1,152 Engineering655
§

Tijdschriften in hetzelfde vakgebied

Meer →
1746-5702

ITNOW

Oxford University Press · Verenigd Koninkrijk

APC
—
Review
—
Artikelen/jaar
6,066