เปรียบเทียบ
เปรียบเทียบวารสาร
ป้อน ISSN 2–3 รายการ แล้วเปรียบเทียบ APC ระยะเวลาประเมิน ปริมาณ และการเข้าถึงแบบเปิด
| ข้อมูลพื้นฐาน | IEEE Design & Test of Computers |
|---|---|
| ชื่อเรื่อง | IEEE Design & Test of Computers |
| ISSN | 0740-7475, 1558-1918 |
| สำนักพิมพ์ | Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| ประเทศ/ภูมิภาค | สหรัฐอเมริกา |
| สาขา | Computer Science |
| การเข้าถึงแบบเปิด | — |
| APC | — |
| การประเมิน | — |
| บทความ/ปี | 2,981 |
| h-index | 112 |
| การอ้างอิงเฉลี่ย 2 ปี | 0.00 |
| DOAJ | — |
| หน้าส่งบทความ | — |