สมัครสมาชิก

IEEE Design & Test of Computers

IEEE design and test · Design and test of computers · Design & test of computers · IEEE design and test of computers · Design & test of computers, IEEE · Institute of Electrical and Electronics Engineers design and test of computers

ISSN:0740-7475, 1558-1918

เพิ่มในการเปรียบเทียบ

APC—

การประเมิน—

บทความ/ปี2,981

h-index112

การอ้างอิงเฉลี่ย 2 ปี0.00

ปีที่เผยแพร่ล่าสุด2023

ข้อมูลพื้นฐาน

สำนักพิมพ์: Institute of Electrical and Electronics Engineers
ประเทศ/ภูมิภาค: สหรัฐอเมริกา
สาขา: Computer Science
การเข้าถึงแบบเปิด: —
DOAJ: —
สัญญาอนุญาต: —
ปีแรก: 1984
บันทึกบทความ: —
เว็บไซต์: —
หน้าส่งบทความ: —

ตรวจสอบการส่ง

ค่าใช้จ่าย:ไม่ระบุจำนวน APC
ความยาก:—;2,981 บทความต่อปี
วิธีส่ง:ยังไม่มีลิงก์คำแนะนำสำหรับผู้เขียน เริ่มจากเว็บไซต์วารสาร
การเข้าถึงแบบเปิด:—

“การอ้างอิงเฉลี่ย 2 ปี” คือฟิลด์ OpenAlex summary_stats.2yr_mean_citedness (CC0) ซึ่งเป็นค่าเฉลี่ยการอ้างอิงต่อบทความในช่วงสองปี เป็นฟิลด์บรรณมิติดิบ ไม่ใช่การประเมินวารสาร และไม่ใช้ในการจัดเรียงเริ่มต้น